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1983年，德國物理學家POCKELS首先發(fā)現(xiàn)某些晶體物質(zhì)在外加電壓的作用下發(fā)生雙折射且雙折射兩光波之間的相位差與電壓成正比，這一物理現(xiàn)象稱這為POCKELS效應。 POCKELS效應的光纖電壓光電開關(guān)傳感器在外加電場作用下，晶體由各向同性變成各向異性的雙折射晶體。當線偏振光投身到雙折射晶體的端面，入射光束就會變成與初相角相同、而電位移矢量相互垂直的兩束光，由于它在所在晶體中的傳播速度不同，出射時有一定的相位差，采用檢偏器將相互垂直的兩出射光束變成偏振相同的相干光，產(chǎn)生相干涉，從而將相位調(diào)制光變成振幅調(diào)制光，將相位差的側(cè)量轉(zhuǎn)化為光強的測量，最后獲得被測電壓值V。晶體的電光系數(shù)只要測出兩束偏振光的相位差，就可以得出被測電壓的大小，這就是基于POCKELS效應電壓測量的基本原理。 在現(xiàn)有的技術(shù)條件下，要對光的相位變化進行精確的直接測量是不可能的，這里需要采用偏振光干涉的方法。 |
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